一、SD NAND 特征
1.1 SD 卡简介
雷龙的 SD NAND 有多种型号，本次测试选用 CSNP4GCR01-AMW 与 CSNP32GCR01-AOW。这类芯片基于 NAND FLASH 和 SD 控制器实现，具备强大的坏块管理和纠错功能，即使在意外掉电情况下也能保证数据安全。
主要特性如下：
- 接口支持 SD2.0 2 线或 4 线模式；
- 电压范围：2.7V-3.6V；
- 默认模式：可变时钟速率 0 - 25MHz，最高 12.5 MB/s（4 线并行）；
- 高速模式：可变时钟速率 0 - 50MHz，最高 25 MB/s（4 线并行）；
- 工作温度：-40°C ~ +85°C；
- 存储温度：-55°C ~ +125°C；
- 待机电流小于 250uA；
- 支持内存字段错误修正；
- 内容保护机制符合 SDMI 最高安全标准；
- 支持 SDNAND 密码保护 (CMD42 - LOCK_UNLOCK)；
- 采用机械开关及内置写保护功能（永久和临时）；
- 支持应用程序特定命令；
- 舒适擦除机制。
该 SD 卡支持 SDIO 读写和 SPI 读写，理论最高速度可达 25MB/s，实际速度需结合 MCU 和接口情况实测。在简单嵌入式系统或对速度要求不高的场景下，常使用 SPI 协议。无论使用 SDIO 还是 SPI，都需遵循相关协议规范才能建立文件系统。
1.2 SD 卡 Block 图
该 SD 卡封装为 LGA-8，引脚分配与定义如下：
二、SD 卡样片
随样片寄来的还有转接板，可将 LGA-8 封装的芯片转接至标准 SD 卡封装，直接插入卡槽即可使用。
三、Zynq 测试平台搭建
- 测试平台：Xilinx Zynq 7020 FPGA 芯片
- 开发板：Digilent Zybo Z7
- Vivado 版本：2018.3
- 文件系统：FATFS
- SD 卡接口：SD2.0
3.1 测试流程
本次测试主要针对 4G 和 32G 两个不同容量的 SD 卡，在 Zynq FPGA 上搭建 SD 卡读写回路。
