华为OD机试双机位C卷-FLASH坏块监测系统(Py/Java/C/C++/Js/Go)

FLASH坏块监测系统

华为OD机试双机位C卷 - 华为OD上机考试双机位C卷 100分题型

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题目描述

开发一个 FLASH 坏块监测系统，能够监测 FLASH 中坏块的数量。FLASH 介质以一个大小为 m×n的二维二进制矩阵表示，其中：0 表示正常，1 表示异常。最初，FLASH 介质中的所有单元格都是正常（即，所有单元格都是 0）。
系统运行过程中，FLASH 坏块不断产生：随着系统持续运行，某一个时刻 i，FLASH 介质中的某个单元格 (ri,ci)由正常变为异常。返回一个整数数组 result，其中 result[i] 是 FLASH 介质中第 i 个时刻 (ri,ci)位置变为异常后，FLASH 中坏块的数量。坏块的定义：坏块是由 4 个方向相连的异常单元格组成的“极大”块。你可以假设给定的 FLASH 介质外的所有点都是正常的。

输入描述

第一行输入和第二行输入分别为 m 和 n，表示 FLASH 介质是 m×n的二维二进制矩阵。
第三行开始的每一行表示第 ii 个时刻新增的异常位置 (ri,ci)最多 1000 个。

注意：

• 1≤m,n≤10^3<